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全自动频响法变压器绕组变形分析仪

全自动频响法变压器绕组变形分析仪两个采集通道,一个采集激励信号,一个采集响应信号,用于计算传递函激励通道测量为固定量程:±5V;响应通道有 8档量程,在测量过程中自动调节量程,zui大输入信号为±25V

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2022-04-20
  • 访  问  量:1103
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详细介绍

全自动频响法变压器绕组变形分析仪变压器绕组变形测试仪系统用于测试6kV及以上电压等级电力变压器及其它特殊用途的变压器,电力变压器在运行或者运输过程中不可避免地要遭受各种故障短路电流的冲击或者物理撞击,在短路电流产生的强大电动力作用下,变压器绕组可能失去稳定性,导致局部扭曲、鼓包或移位等*变形现象,这样将严重影响变压器的安全运行。本仪器采用扫频法及低电压阻抗法对变压器的绕组进行测试,按国家电力行业标准DL/T911-2004采用频率响应分析法测量变压器的绕组变形,是通过检测变压器各个绕组的幅频响应特性,并对检测结果进行纵向或横向 比较,根据幅频响应特性的变化程度,判断变压器绕组可能发生的变形情况。DL/TXXX-2007也给出了低电压阻抗的判断方法。

产品特点
◆ 采集控制采用高速、高集成化微处理器。
◆ PC机与仪器之间USB通信接口。
◆ 硬件机芯采用DDS数字高速扫频技术(美国),通过测试可以准确诊断出绕组发生扭曲、鼓包、移位、倾斜、匝间短路变形及相间接触短路等故障。
◆ 高分辨dB值测量,双通道16位A/D(现场试验改变分接开关,即有明显输出变化)。
◆ 信号输出幅度可以软件调节,zui大幅度峰值±10V。
◆ 计算机将检测结果生成电子文档(WORD)
◆ 选用精密、高稳定元器件,对同一相重复试验,测量重复率在99.5%以上。
◆ 成品电路板,表面有特殊处理,具有抗水和有害气体污染。
◆ 笔记本电脑和测量仪器采用隔离电源供电,排除外界干扰。
◆ 仪器具有线性扫频测量和分段扫频测量双测量系统功能,兼容当前国内两种技术流派的测量模式
◆ 幅频特性符合国家关于幅频特性测试仪的技术指标。横坐标(频率)具有线性分度及对数分度两种,因此打印出的曲线可以是线性分度曲线也可以是对数分度曲线,用户可根据实际需要选用。
◆ 检测数据自动分析系统,横向比较A、B 、C三相之间进行绕组相似性比较,其结果为:①*性很好②*性较好③*性较差④*性很差,纵向比较A-A、B-B、C-C调取原数据与当前数据同相之间进行绕组变形比较,其结果为:①正常绕组②轻度变形③中度变形④严重变形。
◆ 自动生成Word电子文档,供保存和打印。
◆ *电力标准DL/T911-2004《电力变压器绕组变形的频率响应分析法》的技术条件。

 扫描方式:(仪器具备线性扫频测量和分段扫频测量双测量系统)
    (1)线性扫描分布
         扫频测量范围:(1kHz)-(2MHz)、2000扫频点、分辨率为1kHz
    (2)分段扫频测量分布 
         扫频测量范围:(0.5kHz)-(1MHz)、2000扫频点;
(0.5kHz)-(10kHz)、 分辨率为0.02kHz
(10kHz)-(100kHz)、 分辨率为0.2kHz
(100kHz)-(500kHz)、 分辨率为1kHz
(500kHz)-(1000kHz)、分辨率为1kHz

全自动频响法变压器绕组变形分析仪

技术指标:

仪器自带一个通道DDS信号输出作为扫频的激励信号;信号输出为正弦波,信号输出幅度可以软件调节,zui大幅度±5V,信号输出阻抗为50Ω
两个采集通道,一个采集激励信号,一个采集响应信号,用于计算传递函数
激励通道测量为固定量程:±5V;响应通道有 8档量程,在测量过程中自动调节量程,zui大输入信号为±25V
采集通道量化精度:12位
采集通道zui大静态误差:0.5%
每通道zui大存储容量:64K样点
每通道zui高采样率:20Msps
采集通道输入阻抗:1MΩ
扫频测量范围:1K-1MHz
扫描方式:采用线形分布的扫频测量方式
扫描频率精度:信号源输出正弦信号的频率精度不大于0.01%
扫频测量频点:1K-1MHz,测量点数1000点
采用Vittal原装机箱
符合国家电力行业标准:DL/T911-2004

注意事项:

1.检查变压器接地状况是否良好,套管引线应全部解开。
2.详细记录被试品的铭牌数据及原始工况有否异常,以及被试品变压器当前测试状况下的分接开关位置,并仔细输入被试品情况登记窗。
3.根据被试品的情况建立被试品数据文件的子目录;测试完成后应将测量的数据备份至该目录下,并注意进行整理工作。
4.数据存放格式:文件是以ASCII码的形式存放。
5.对刚退出运行的变压器进行测量,测量前应尽量让其散热降温;但在整个测量过程中应停止对其所施的降温手段,保持温度,以免测量过程中温度变化过大而影响测量结果的*性。



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